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  • 孔隙度分析儀和微孔中孔分析儀及比表面積分析儀
    孔隙度分析儀和微孔中孔分析儀及比表面積分析儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：

    瀏覽量：2569

    貝士德公司在國內(nèi)*取得6項(xiàng)比表面積分析儀相關(guān)*，為國內(nèi)擁有*項(xiàng)目Z多的公司； 貝士德公司為國內(nèi)*符合09年新標(biāo)準(zhǔn)的北京科技園區(qū)*； 貝士德公司為業(yè)內(nèi)Z早通過ISO9001質(zhì)量體系認(rèn)證的生產(chǎn)性企業(yè)； 貝士德公司為動(dòng)態(tài)色譜法比表面積分析儀Z高精度的創(chuàng)造者與保持者； 貝士德公司是靜態(tài)容量法吸附儀*性和智能化的代表；
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  • BSD-PS比表面積和孔隙度分析儀
    BSD-PS比表面積和孔隙度分析儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

    瀏覽量：3291

    比表面積和孔隙度分析儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS硅酸鈣孔隙度分析儀
    BSD-PS硅酸鈣孔隙度分析儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

    瀏覽量：2183

    硅酸鈣孔隙度分析儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS炭黑孔隙度分析儀
    BSD-PS炭黑孔隙度分析儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

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    炭黑孔隙度分析儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS石墨烯孔隙度分析儀
    BSD-PS石墨烯孔隙度分析儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

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    石墨烯孔隙度分析儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS四氧化三鐵孔隙度分析儀
    BSD-PS四氧化三鐵孔隙度分析儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

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    四氧化三鐵孔隙度分析儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS碳黑孔隙度分析儀
    BSD-PS碳黑孔隙度分析儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

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    碳黑孔隙度分析儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS硅藻土孔隙度分析儀
    BSD-PS硅藻土孔隙度分析儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

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    硅藻土孔隙度分析儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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